一種使用雷射二極體及四象儀檢測轉軸誤差之方法G01M-001/00(2006.01);(IPC 1-7) : G01M-001/00

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

090116317

專利證號

I 172294

專利獲證名稱

一種使用雷射二極體及四象儀檢測轉軸誤差之方法G01M-001/00(2006.01);(IPC 1-7) : G01M-001/00

專利所屬機關 (申請機關)

國立虎尾科技大學

獲證日期

2003/01/11

技術說明

一種使用雷射二極體及四象儀檢測轉軸誤差之方法

備註

本部(收文號1060000110)同意該校105年12月30日虎科大智財字第10534002490號函申請終止維護專利

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智財技轉組

連絡電話

(05)6315933

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