應用於光電元件之視覺化光場檢測方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

090133542

專利證號

162216

專利獲證名稱

應用於光電元件之視覺化光場檢測方法

專利所屬機關 (申請機關)

逢甲大學

獲證日期

2002/12/19

技術說明

一種應用於光電元件之視覺化光場檢測方法,主要包括下列步驟:尋找 發光中心點步驟,中心 區域掃描步驟,包裹式掃描步驟及總亮度計算步驟。特別是此包裹式掃 描步驟中,分別取得一 右上斜線區域,一左上斜線區域,一左下斜線區域及一右下斜線區域之 各區域總亮度值。所 以,本創作大幅減少掃描點數,而可快速且精確的檢測單一元件之發光 品質,大幅提昇檢測速 度。另外,本發明也可適用於具有概呈圓形或橢圓形發光區域之光電元 件之發光品質檢測。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

技術授權中心

連絡電話

(04)24517250-6811

網址