具有晶片式電泳裝置之樣品分析系統

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

089126609

專利證號

159209

專利獲證名稱

具有晶片式電泳裝置之樣品分析系統

專利所屬機關 (申請機關)

國立成功大學

獲證日期

2002/06/11

技術說明

本發明係有關於一種具有晶片式電泳裝置之樣品分析系統，特別是將 前述晶片式電泳連接動力驅動之流動式自動進樣裝置將樣品導入晶片 式電泳裝置中，前述晶片係可透過衍生化方法將晶片上之進樣槽進行 表面修飾（surface modification）以避免注入之樣品吸附於進樣槽 之槽壁，進而提高樣品進樣速率及減少樣品之交叉污染（cross contamination），本發明利用晶片上持續的流體分流及電壓調控的方 式配合偵測單元、訊號擷取單元及訊號處理單元，使樣品能進行即 時、快速的連續式分析且不受其他時間樣品的干擾。

備註

92年度辦理讓度

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

企業關係與技轉中心

連絡電話

06-2360524

網址