光學干涉液面污染偵測方法及系統 | 專利查詢

光學干涉液面污染偵測方法及系統


專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

088116030

專利證號

I149579

專利獲證名稱

光學干涉液面污染偵測方法及系統

專利所屬機關 (申請機關)

國立清華大學

獲證日期

2002/01/11

技術說明

光學干涉液面污染偵測方法及系統

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智財技轉組

連絡電話

03-5715131-62219


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