測量以非晶形矽氫為感測膜之ＩＳＦＥＴ之溫度參數的方法及其裝置

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

09/768,518

專利證號

6,525,554

專利獲證名稱

測量以非晶形矽氫為感測膜之ＩＳＦＥＴ之溫度參數的方法及其裝置

專利所屬機關 (申請機關)

國立雲林科技大學

獲證日期

2003/02/25

技術說明

本發明揭露了一種測量以非晶形矽氫為感測膜之ISFET之 溫度參數的方法及其裝置，其利用電流/電壓量測裝置量 測出非晶形矽氫離子感測場效電晶體之源/汲極電流對閘 極電壓之曲線，再由曲線中進一步估算出元件之感測度 與溫度之關係以及溫度係數與pH值之關係，藉以反推出 未知濃度溶液中之離子濃度或pH值。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智財管理組

連絡電話

(05)5342601轉2521

網址